نشر التدريسي في مركز أبحاث البوليمر الدكتور اسعد كريم عيدان بحثاً جديداً بعنوان (Reactive ion etching of tantalum in silicon tetrachloride) في المجلة العالمية (Microelectronic Engineering) الرائدة في تصنيع وتوصيف المواد والأجهزة والدوائر الإلكترونية الدقيقة / النانوية والمنضوية في مستوعبات سكوباس وكلاريفيت ويعتبر هذا البحث كجزء من التعاون البحثي مع جامعة أدنبرة في المملكة المتحدة ، تناول البحث دراسة تفصيلية لخاصية الازالة الدقيقة (Etching) لاغشية رقيقة مصنوعة من التانتلوم (Tantalum). الهدف من البحث هو التحقق من أمكانية التحكم الدقيق بالازالة لطبقات رقيقة جداً تصل الى 10 نانومتر. للدراسة اهمية كبيرة في تكوين أغشية رقيقة وتصنيع وحدات الكترونية صغيرة الحجم تستخدم في العديد من التطبيقات الالكترونية.