| العنوان | Mechanical stability and optoelectronic behavior of BeXP2 (X=Si and Ge) Chalcopyrite |
|---|---|
| السنة | 2020 |
| اسم المجلة | A.Gani, O.Cheref, M.Ghezali, M.Rabah, A.H.Reshak, Y.Djaballah, H.Righi, D.Rached, A.Belasri, Chinese Journal of Physics 64 (2020) 174–182 |
| نوع المنشور | بحث مجلة |
| بحث عالمي؟ | 1 |
| رابط البحث في المجلة | https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S0577907320300137 |
| هل البحث ضمن مستوعب كلارفيت | 1 |
| هل البحث ضمن مستوعب سكوبس | 1 |
| الملف (في حالة البحث open access( | uploads/publications/1588502568.pdf |
| التدريسي | علي حسين رشك . . |
| البريد الالكتروني | reshak@uobasrah.edu.iq |